產(chǎn)品介紹：
VI1000型智能V-I測(cè)試儀是采用原日本鋁箔化成電源改進(jìn)的電源電路及單片機(jī)外圍電路，全電腦軟件智能控制模式，實(shí)現(xiàn)對(duì)化成鋁陽(yáng)極箔V-I特性綜合電性能的自動(dòng)檢測(cè)。不需要人工進(jìn)行干預(yù)，軟件具有操作簡(jiǎn)單、直觀、快捷的特點(diǎn)，領(lǐng)先于國(guó)內(nèi)同類檢測(cè)儀器新產(chǎn)品。
軟件過程：
(1).切口化成：切口化成電壓=(實(shí)際輸入電壓)/1.07。
比如實(shí)際電壓為530V，那么切口化成電壓為530/1.07=495.3V。化成電流2-50mA/片。
穩(wěn)壓時(shí)間300秒。
(2).階段升壓：記錄每一階梯末的電流值，最后作V-I曲線。
測(cè)試過程描述：假設(shè)樣片規(guī)格為530v，
第一階段電壓53v，恒壓180S。
第二階段升壓到106v，恒壓180S。
…
第十階段升壓到530v，恒壓180S。
等距升壓10次。
測(cè)試結(jié)束后，系統(tǒng)將每一個(gè)恒壓階段的最后2秒電流所有采樣值進(jìn)行平均計(jì)算后得到該段的漏電值，最后將每一階段的漏
電流和電壓變化值，合成V-I曲線。
(3).切口化成結(jié)束后直接轉(zhuǎn)到階段升壓。
樣片切片：
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)試圖片(3張)：
(1).
(2).
(3).
V-I曲線說(shuō)明漏電越平緩，說(shuō)明箔的漏電性能越好，那么在選用時(shí)會(huì)優(yōu)先考慮。
異常圖片：
